Test estructural i predictiu per a circuits RF CMOS

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dc.contributor Garcia Moreno, Eugeni
dc.contributor Picos Gayá, Rodrigo
dc.contributor Departament de Física
dc.creator Suenaga Portugués, Kay
dc.date 2008
dc.date.accessioned 2017-07-10T09:37:14Z
dc.date.available 2017-07-10T09:37:14Z
dc.identifier 9788469215876
dc.identifier http://ibdigital.uib.cat/greenstone/collect/tesisUIB/index/assoc/TDX-0114.dir/TDX-0114109-123349.pdf
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11201/2708
dc.description [cat] En aquesta tesi s’ha desenvolupat una tècnica de test que permet testar un LNA i un mesclador, situats en el capçal RF d’un receptor CMOS, en una configuració de test semblant al mode normal de funcionament. La circuiteria necessària per a implementar aquesta tècnica consta d’un generador IF, per a generar el senyal IF de test, i d’un mesclador auxiliar, per a obtenir el senyal RF de test. Les observables de test escollides han estat l’amplitud de la tensió de sortida del mesclador i el component DC del corrent de consum. S’ha estudiat l’eficàcia de la tècnica de test proposada utilitzant les estratègies de test estructural i predictiu, mitjançant simulacions i mesures experimentals. La seva eficàcia és comparable a altres tècniques de test existents, però l’àrea addicional dedicada a la circuiteria test és inferior.
dc.description [spa] En esta tesis se ha desarrollado una técnica de test que permite verificar un LNA y un mezclador, situados en el cabezal RF de un receptor CMOS, en una configuración de test similar al modo normal de funcionamiento. Los circuitos necesarios para implementar esta técnica son: un generador IF, que permite generar la señal IF de test, y un mezclador auxiliar, para obtener la señal RF de test. Las observables de test seleccionadas han sido la amplitud de la tensión de salida y la componente DC de la corriente de consumo. Se ha estudiado la eficacia de la técnica propuesta usando las estrategias de test estructural y predictiva, mediante simulaciones y medidas experimentales. Su eficacia es comparable a otras técnicas existentes, pero el área dedicada a la circuiteria de test es inferior.
dc.description [eng] This PhD thesis develops a test technique intended for the RF front end of CMOS integrated receivers. This test technique allows testing individually the building blocks of the receiver in a sequential way. The test mode configuration of each block is similar to the normal mode operation. The auxiliary circuitry required to generate the test stimuli consists of an IF generator, which generates the IF test signal, and an auxiliary mixer that produces the RF test signal by mixing the IF test signal with the local oscillator signal. The test observables selected for the test are the voltage amplitude after the IF amplifier, and the DC component of the supply current in each block. The capability of the proposed test technique to perform structural and predictive test strategies has been validated by simulation and experimentally. Its efficiency is comparable to other existing techniques, but the silicon area overhead is lower.
dc.format application/pdf
dc.language cat
dc.publisher Universitat de les Illes Balears
dc.relation Tesis doctorals de la UIB
dc.rights all rights reserved
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject Física
dc.subject Test estructural test predictiu test de corrent test analògic test seqüencial RF CMOS amplificador operacional LNA mesclador capçal RF Test estructural test predictivo test de corriente test analógico test secuencial RF CMOS amplificador operacional LNA mezclador cabezal RF Structural test predictive test current testing analog test sequential test RF CMOS operational amplifier LNA mixer RF front-en
dc.title Test estructural i predictiu per a circuits RF CMOS
dc.type info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion


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