Estudio de eventos transitorios generados por pulsos láser ultracortos en fotodiodos

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dc.contributor Bota Ferragut, Sebastià
dc.contributor.author Bandi, Franco Nahuel
dc.date 2014
dc.date.accessioned 2020-03-24T10:13:40Z
dc.date.available 2020-03-24T10:13:40Z
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11201/151169
dc.description.abstract [spa] La miniaturización de los circuitos integrados trae consigo numerosas ventajas, como el aumento de la densidad de integración y la mayor frecuencia de trabajo, no obstante, trae consigo problemas de alimentación, fabricación y compatibilidad electromagnética con el entorno. Ahora, los problemas que sufrían los satélites por atravesar determinadas órbitas empiezan a preocupar a las empresas y autoridades aéreas que buscan blindar sus sistemas ante cualquier tipo de fallo crítico. Esto supone un interés común entre empresas, administración y investigadores para estudiar los efectos producidos por las partículas de alta energía en dispositivos electrónicos, y diseñar sistemas más robustos ante el entorno. Se ha demostrado que las partículas de alta energía pueden ser emuladas con pulsos láser ultracortos, gracias al efecto fotoeléctrico. Para entender mejor los mecanismos de generación de carga en una dispositivo electrónico se ha optado por estudiar el elemento más básico de la electrónica en estado sólido, el fotodiodo. Así, se estudiará la respuesta del fotodiodo a diferentes tensiones e intensidades lumínicas con el fin de estudiar a respuesta dinámica, la carga colectada y demás parámetros de interés para compararlos con los obtenidos por otros grupos de investigación. Los resultados logrados concuerdan con las hipótesis planteadas en diferentes artículos y la caracterización del fotodiodo, estudiando su respuesta dinámica, resulta una técnica prometedora que ayudará a esclarecer las contribuciones de los mecanismos que gobiernan los movimientos de portadores libres. Por otro lado, Parte del trabajo realizado servirá para entender mejor el funcionamiento de las instalaciones y poder sacarles el mejor partido posible. De las comparaciones con los otros grupos de investigación, puede verse que no existe un montaje mejor que otro, cada uno con sus características ofrece ventajas y desventajas dependiendo de los parámetros que se estén buscando y del dispositivo en sí mismo. Por la tecnología de fabricación algunos circuitos integrados serán difíciles de trabajar con determinadas configuraciones de láser, como circuitos digitales con gran densidad de capas de metal, mientras que otros resultarán relativamente simples, como el fotodiodo.
dc.format application/pdf
dc.language.iso spa
dc.publisher Universitat de les Illes Balears
dc.rights all rights reserved
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject 004 – Informàtica
dc.title Estudio de eventos transitorios generados por pulsos láser ultracortos en fotodiodos
dc.type info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion


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